Microscopio de Fuerza Atómica Nanosurf easyScan2 El Microscopio de Fuerza Atómica (Atomic Force Microscopy, AFM) utiliza una sonda, la cual es una punta sujeta al extremo de un cantiliver, que permite detectar fuerzas del orden de nanonewtons. Al recorrer la muestra con esta sonda se registra la topografía de la misma gracias a la deflexión del cantiliver. Esta información la procesa el software generando una imagen 3D. Este tipo de microscopio se utiliza para el estudio de superficies, capas delgadas, recubrimientos, visualización y caracterización eléctrica y magnética de nanoestructuras, también puede ser empleando en el estudio de muestras biológicas como bacterias y células. El equipo cuenta con la capacidad de realizar litografía y espectroscopia. Especificaciones:
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Microscopio de Efecto Túnel Nanosurf easyScan 2 El Microscopio de Efecto Túnel (Scanning Tunneling Microscope, STM), permite determinar la variación tridimensional de la densidad de carga en una superficie mediante la tunelización de los electrones entre una punta afilada y la muestra. La posición de la punta es controlada en tres dimensiones por medio de controladores piezoeléctricos, la punta es escaneada en dos dimensiones laterales, mientras que un circuito de reacción ajusta constantemente la altura para mantener la corriente constante. Por lo tanto, al mantener una corriente constante se obtienen más o menos alturas similares en la punta, por lo que la forma de la superficie es reproducida durante el camino de la punta. Especificaciones:
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