Microscopía Electrónica

Microscopio Electrónico de Barrido: JEOL JSM-6010LA

Debido a sus características, este microscopio electrónico permite el ahorro de espacio y de energía en el laboratorio. A su vez, es posible la observación de estructuras complejas de especímenes de manera muy detallada.

Especificaciones:

  • Sistema de vacío amigable con el ambiente
  • Modos de observación: Estándar y reducción de carga
  • Voltaje de aceleración de  5kV y 15 kV
  • Magnificación máxima: 30,000X
  • Tamaño máximo de muestra: 70 mm diámetro y 50 mm de altura

 

Microscopio Electrónico de Transmisión: JEOL JEM-2100

El Microscopio Electrónico de Transmisión JEM-2100F (Transmission Electron Microscope, TEM) es un equipo que permite la caracterización y el estudio de la ultraestructura y morfología en cortes ultrafinos o muestras nanométricas. El equipo opera a un voltaje máximo de 200 kV, el cual activa el filamento que emite un haz de electrones que es acelerado por una columna en alto vacío, a través de campos magnéticos. El haz de electrones se comporta como una luz monocromática de alta resolución, que atraviesa la muestra y proyecta la imagen en una pantalla de fósforo ubicada en la base de la columna. La imagen obtenida puede magnificarse hasta 1.500.000 veces con el fin de detallar la ultraestructura de las muestras biológicas y la estructura atómica de materiales en modo de alta resolución.

Especificaciones:

  • Facilidad de operación
  • Magnificación máxima: 1,500,000X.
  • Resolución de 0,14nm lattice.
  • Voltaje de aceleración de hasta 200kV.
  • Detector para análisis de espectroscopía de rayos X de electrones dispersados acoplado.